Q-400 - система для измерения перемещений и деформаций

Было разработано программное и аппаратное обеспечение, чтобы сделать Q-400 наиболее легкой системой для использования. Система легка в изучении и имеет интуитивно понятное программное обеспечение и процедура автоматической калибровки в сочетании с качественной обратной связью и четкими достоверными границами по всей поверхности изделия, обеспечиваю наиболее точные измерения. Специально разработанная подсветка HiLis входит в стандартную поставку системы и обеспечивает очень однородную холодную освещенность для повышения точности.

Система уникальна тем, что предлагает корреляцию по всей поверхности изделия в реальном времени, аналоговое выходное напряжение пропорциональное измеряемым величинам. Осуществляемая в реальном времени оценка состояния накладывается на постоянно обновляемые данные на текущих изображениях, используя обработку. В дополнение два выходных канала позволяют извлечь текущие данные в виде напряжений для сопряжения с внешними устройствами.

Принцип измерений

Стохастическая картина наносится на поверхность испытуемого объекта. Эта картина может быть создана путем распыления основного белого цвета и нанесения сверху разбрызгиванием черной краски. Поверхность наблюдается двумя камерами (датчиками). Сначала измеряется контур, затем каждая соответствующая точка захваченного изображения стохастической структуры идентифицируется с помощью специального алгоритма сравнения изображений. Все параметры камеры определяются путем быстрой и простой процедуры калибровки, при этом отображается точность калибровки. Три координаты положения каждой точки объекта определяются методом триангуляции, выполняемой программным обеспечением. Если последовательности изображений записаны во время перемещения объекта, то деформация каждой точки объекта вычисляется автоматически.

Характеристика параметров материалов, находящаяся в диапазоне пластических деформаций: мощные инструменты анализа данных позволяют определить местоположение и амплитуды максимальной деформации, что является важными данными в испытаниях материалов.

Технические характеристики

• Результаты измерений: контуры всей поверхности, трехмерных перемещений и деформаций
• Диапазон измерений: напряжения до нескольких сотен процентов
• Управляющая электроника: опции программного обеспечения для ноутбука или стационарного компьютера, интегрированный сбор и запись аналоговых данных: 8 независимых конфигурируемых каналов сбора аналоговых данных, 16-битное разрешение, от ± 0.05 В до ± 10 В, синхронизированы с камерой, два аналоговых выходных напряжения для извлечения данных, ± 10 В
• Подсветка: система холодной подсветки HILIS для соответствующего равномерного освещения образцов и повышения точности измерений
• Камера: возможны различные типы камер до 16 мегапикселей; стандартные 2 мегапикселя или 5 мегапикселей
• Чувствительность камеры: скорость затвора: 47 мкс – 67 с, частота кадров: до 30 Гц
• Чувствительность измерения перемещений: до 1/100.000 от поля зрения в зависимости от условий измерения, т. е. до 1 мкм для поля зрения в 100 мм
• Деформаций: локально до 0.01%