Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительГермания
- СостояниеНовое
Описание:
Гибкое универсальное измерительное решение нового поколения.
Компактный и удобный микроскоп MarSurf CM explorer представляет собой комплекс аппаратных и программных средств для точного измерения и анализа поверхностей. Новое поколение MarSurf CM explorer сочетает в себе проверенные качества с инновационными технологиями MarSurf CM. Измерительная система полностью поддерживает работу в расширенном динамическом диапазоне (HDR), автоматическое обнаружение линз и оснащена защитой от столкновений по всем направлениям.
MarSurf CM explorer является экономически-эффективным прибором для применения в лабораториях и обеспечения качества в производственных условиях. Микроскоп позволяет быстро и просто выполнять достоверные трехмерные измерения всего за несколько функциональных шагов.
Особенности:
- Высокая скорость измерений даже при полном разрешении
- Удобная для пользователя концепция
- Безопасность благодаря наличию функции обнаружения столкновений
- Поддержка HDR 16 бит
- Сшивание в режиме высокой четкости (HD) – неизменно высокое разрешение даже на больших областях измерения
Технические характеристики:
|
Измерительная головка |
explorer |
||
|
Модуль захвата изображения |
Максимальное количество измеряемых точек за одно измерение x*у |
1200 x 1200 = 1.44 млн. |
|
|
Максимальная частота изображения при полном разрешении, Гц1 |
25/(100) |
||
|
Функция HDR (16 бит) |
стандартно |
||
|
Захват цветного изображения |
опция |
||
|
Максимальное количество измеряемых точек, млн.2 |
|
1213 |
|
|
Вертикальный измерительный модуль |
Моторизованный блок позиционирования |
Датчик линейного перемещения |
стандартно |
|
Вертикальный диапазон (мм) |
10 |
||
|
Модуль точного позиционирования (пьезо модуль) |
Вертикальный диапазон (мкм) |
350 |
|
|
Обнаружение столкновения по осям x, y, z |
|
стандартно |
|
|
Держатель линзы объектива |
4-х сторонняя револьверная обойма |
стандартно |
|
|
Без револьверной обойма |
- |
||
|
1) По запросу 2) Максимальное общее количество точек измерения, которое может быть получено измерений со сшиванием. |
|||
|
Конфигурация |
explorer |
|
|
L-стенд |
|
L |
|
Вес, кг |
|
25 |
|
Объем позиционирования |
x*у*z, мм |
50 x 50 x 70 |
|
Датчик линейных перемещений по осям x,y |
|
стандартно |
|
Системный контроллер |
|
встроенный |
|
Пассивное гашение вибрации |
|
встроенный |
|
Активное гашение вибрации |
|
опция |
|
1) Расширяется до 150 мм с помощью встроенной ручной оси Z. |
||
|
Погрешность измерений |
Стандартная |
Неопределенность, стандартное отклонение |
|
|
Неопределённость измерения для измерения высоты ступени |
с линзой объектива 800 XS |
Шаг = 75 мкм |
U = 0.320 мкм, σ = 0.050 мкм |
|
Шаг = 10 мкм |
U = 0.060 мкм, σ = 0.020 мкм |
||
|
Шаг = 1 мкм |
U = 0.030 мкм, σ = 0.004 мкм |
||
|
Погрешность измерения для измерения шероховатости |
с линзой объектива 800 XS |
Ra = 1.63 мкм |
U = 0.040 мкм, σ = 0.004 мкм |
|
Ra = 0.58 мкм |
U = 0.024 мкм, σ = 0.0066 мкм |
||
|
Ra = 0.23 мкм |
U = 0.010 мкм, σ = 0.0050 мкм |
||
|
с линзой объектива 320 S |
Ra = 0.079 мкм |
U = 0.010 мкм, σ = 0.0022 мкм |
|
|
с линзой объектива 160 XS |
Ra = 0.079 мкм |
U = 0.003 мкм, σ = 0.0004 мкм |
|
|
Характеристики образца |
explorer |
|
Высота образца, мм |
70/(опционально 110) |
|
Максимальный вес образца, кг |
10 |
|
Поверхность образца |
Отражательная способность: 0,1-100%, с покрытием, без покрытия, с высокой отражающей способностью к диффузии |
Конфокальный микроскоп для трехмерных измерений Mahr MarSurf CM explorer
Под заказ
Цену уточняйте
Минск ∙
Доставка
Оплата и гарантии