Визуализирующий эллипсометр Accurion Nanofilm_EP4 обладает набором уникальных особенностей в сочетании с in-situ визуализацией в реальном времени. Это позволяет наблюдать структуру образца на микроскопическом уровне и измерять такие параметры, как: толщину покрытий, коэффициенты преломления и поглощения с картированием выбранной поверхности образца по этим параметрам.

Возможность комбинирования этого прибора с другими методами, такими, как: атомно-силовая микроскопия (АСМ), кварцевые микровесы, спектроскопия комбинационного рассеяния, рефлектометрия и другими, дает возможность получения всей необходимой информации о составе и структуре образца.

Отличительные особенности и области применения эллипсометров Accurion:

• Прямая in-situ визуализация образца с наилучшим латеральным разрешением по сравнению с коммерчески доступными аналогами.

• Исследования в диапазоне от 250 нм до 1700 нм с возможностью получения изображений на любой из длин волн в этом диапазоне.

• Большой набор аксессуаров для различных применений (ячейки для исследований границ раздела твердое — жидкость, жидкость — жидкость, контроля температуры, электрохимическая ячейка и многое другое).

• Запатентованная концепция «region of interest (ROI)» дает возможность параллельного исследования нескольких областей внутри выбранного поля зрения.

• Изучение динамических структур, таких как, движущиеся и образующиеся монослои на водной поверхности, растущие и адсорбированные слои, взаимодействие протеинов и многое другое.

• Изящное решение проблемы фоновых отражений при исследовании образцов на тонких прозрачных подложках beam cutter.

• Уникальная разработка среди объективов Nanochromat_2 для высокоразрешающей контрастной визуализации в диапазоне ультрафиолет (УФ) – ближний инфракрасный (БИК) свет с минимизированными искажающими эффетами.