v|tome|x m – многоцелевая рентгеновская микрофокусная КТ система для 3D метрологии и анализа с напряжением/мощностью до 300 кВ / 500 Вт . Система позволяет распознавать детали размером менее 1 мкм, что выводит ее в лидеры индустрии среди компактных систем с трубкой 300 кВ. При использовании двух трубок одновременно (микрофокусной и дополнительной нанофокусной) можно получать детальную 3D информацию для широчайшего диапазона образцов: от наноКТ высокого разрешения для слабопоглащающих образцов до сложных микроКТ приложений, таких как инспекция турбинных лопаток.

Сферы применения

v|tome|x m имеет возможность оснащения всем необходимым для 3D метрологии для измерений линейных размеров с максимально возможной точностью, воспроизводимостью и удобством для пользователя. В дополнение к двухмерному измерению толщины стенок данные компьютерной томографии могут быть быстро сопоставлены с САПР-данными, например, для анализа всего компонента и сравнения всех его размеров с заданными.
 

Ключевые особенности

• Первая компактная 300 кВ микрофокусная КТ система с возможностью определения деталей размером менее 1 мкм.
• Максимальное увеличение для 300 кВ систем при исследовании сильнопоглощающийх образцов.
• Уникальная возможность использования двух трубок (dual|tube) для проведения как микроКТ сильнопоглащающих образцов, так и наноКТ высокого разрешения.
• 3D метрология:
  • термостабилизированный кабинет;
  • высокоточную систему измерений перемещений;
  • защищенный от вибраций манипулятор;
  • калибровочные образцы;
  • специализированное ПО.
     

Технические характеристики