v|tome|x s – универсальная КТ система, позволяющая проводить как 2D рентгеновский контроль, так и микроКТ и наноКТ.
v|tome|x s (микроКТ и наноКТ) используется для инспекции материалов, композитов, спеченных порошковых материалов и керамики, а также для анализа геологических и биологических объектов. Распределение материала, пустоты и трещины визуализируются, создавая трехмерное изображение с микроскопическим разрешением.
№ | Параметр | Значение |
Основная рентгеновская трубка | ||
1 | Максимальное напряжение, кВ | 240 |
2 | Максимальная мощность, Вт | 320 |
3 | Различимость деталей, мкм | <1 |
4 | Конструкция | Открытая, с массивной мишенью |
Дополнительная рентгеновская трубка | ||
5 | Максимальное напряжение, кВ | 180 |
6 | Максимальная мощность, Вт | 15 |
7 | Конструкция | Открытая, с прострельной мишенью |
8 | Различимость деталей, мкм | <0,2 |
Разрешение системы | ||
9 | Физическое разрешение детектора, МПикс | 1 или 2 |
10 | Максимальное разрешение системы, МПикс. | 2 |
11 | Размер вокселя, мкм | <2 для основной трубки, <1 для дополнительной нанофокусной трубки |
Параметры исследуемого образца | ||
12 | Максимальные размеры (высотаХдиаметр), мм | 420 х 240 |
13 | Максимальный вес образца, кг | 10 |
Габариты установки | ||
14 | ШхГхВ, мм | 2330 х 1480 х 1690 |
15 | Вес, кг | 2900 |
Особенности | ||
16 | Манипулятор | 7-мь степеней свободы: Образец - x, y, z, r, t. Детектор – x, y. |
17 | 2D инспекция | Полноценная |
18 | Метрология | Ограниченная |
19 | Линейный детектор | - |